5G時代の先進ミリ波ディジタル無線実験室
信号が減衰しない基板
高周波信号の損失要因「基板の誘電損失」
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図1 FR-4基板の誘電損失の大きさを表す誘電正接($tan\delta$)は0.01程度で信号減衰が顕著.低誘電率材のMEGTRON7の誘電正接は0.001~0.002と低く,ミリ波通信にも利用できる.画像クリックで動画を見る.または記事を読む.[提供・著]加藤 隆志 |
高周波信号の減衰要因 基板の誘電損失
高周波信号を扱う際,基板の誘電損失が重要な問題になります.理想的なプリント基板ではエネルギ損失がゼロですが,実際の基板には抵抗成分が含まれ,信号が減衰してしまいます.この損失の主な要因は,基板の誘電正接($tan \delta$)です.
誘電正接は,誘電体内部での電荷移動によるエネルギ損失を示すパラメータで,値が大きいほど損失が増えます.一般的な基板材料であるFR-4は誘電損失が0.01程度であり,高周波では信号減衰が顕著です.低誘電率材であるMEGTRON7は誘電損失が0.001~0.002と低く,高周波領域でも損失が少なくなります.
誘電損失の影響と低減方法
誘電損失による影響を理解するために,ストリップ線路の減衰率を考えます.減衰率は以下の特性に依存します.
- 誘電正接($tan\delta$):大きいほど損失が増加
- 周波数($f$):高周波になるほど損失が増加
- 誘電率($\varepsilon_r$):平方根に比例して影響
これらの要因から,低損失基板を選択することで高周波信号の減衰を抑えられます.特に5Gのミリ波帯では,信号損失を抑えるために低誘電率かつ低誘電正接の材料が求められます.〈著:ZEPマガジン〉
著者紹介
- 1990年 無線通信機器メーカで設計開発.その後,計測器メーカでRF測定機器,半導体試験装置の設計開発
- 2017年 フリーランスエンジニアとして独立,無線通信機器やSDR機器の受託開発
- 2019年 株式会社ラジアンとして法人化,現在に至る
著書
- ソフトウェア制御フェーズドアレイ・ミリ波モジュール“mmCon3”誕生[Vol.1 分散型マルチビーム無線機のハードウェア],ZEPエンジニアリング.
- ソフトウェア制御フェーズドアレイ・ミリ波モジュール“mmCon3”誕生[Vol.2 1エレメント1モジュール独立分散型の理由],ZEPエンジニアリング.
- ソフトウェア制御フェーズドアレイ・ミリ波モジュール“mmCon3”誕生[Vol.3 ソフトウェアによるマルチビーム制御の実験],ZEPエンジニアリング.
- ソフトウェア制御フェーズドアレイ・ミリ波モジュール“mmCon3”誕生[Vol.4 非接触共振カプラによるアレイ・チャネル拡張],ZEPエンジニアリング.
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- 5G時代の先進ミリ波ディジタル無線実験室[Vol.4],ZEPエンジニアリング.
- 5G時代の先進ミリ波ディジタル無線実験室[Vol.5],ZEPエンジニアリング.
- 5G時代の先進ミリ波ディジタル無線実験室[Vol.6],ZEPエンジニアリング.
- ,ZEPエンジニアリング.
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参考文献
- [VOD]MATLAB/Simulink×FPGAで作るUSBスペクトラム・アナライザ,ZEPエンジニアリング.
- [VOD/KIT]3GHzネットアナ付き!RF回路シミュレーション&設計・測定入門,ZEPエンジニアリング.
- [VOD/KIT]3GHzネットアナ付き!初めてのIoT向け基板アンテナ設計,ZEPエンジニアリング.
- [VOD/KIT]初めてのソフトウェア無線&信号処理プログラミング 基礎編/応用編,ZEPエンジニアリング.
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